濟南三泉中石實驗儀器有限公司研發生產了包裝薄膜厚度測量儀，薄膜測厚儀性價比高，價格便宜。

　　包裝薄膜主要是起著產品保護作用，商家為了方便運輸，往往在產品上包裹上一次薄膜。包裝薄膜的厚度不均勻的話就可能對薄膜的物理性能造成影響。為了保證運輸包裝的可靠性，濟南三泉中石實驗儀器有限公司研發生產了包裝薄膜厚度測量儀。

包裝薄膜厚度測量儀　　

一個小小的塑料包膜，如果薄膜的整體厚度均勻性差，其中各層樹脂的厚度分布也會存在差異。毫無疑問，對涂層厚度的檢測將更有利于有效控制薄膜各層的厚度均勻性，但對于多層薄膜若想精確測量每一涂層的厚度，在相應的厚度檢測設備上就需要有非常大的投資，并隨著薄膜層數的增長而加大，給企業帶來較大的經濟負擔。濟南三泉中石實驗儀器有限公司的性價比高，價格便宜，是理想的檢測設備。

　　技術參數

　　測量范圍:0-2mm （其他量程可定制

　　分辨率:0.1um

　　測量速度:10次/min（可調）

　　測量壓力:17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（紙張）

　　接觸面積:50mm2（薄膜），200mm2（紙張） 注：薄膜、紙張任選一種

　　進樣步矩:0 ～ 1300 mm(可調)

　　進樣速度:0 ～ 120 mm/s(可調)

　　機器尺寸:450mm×340mm×390mm (長寬高)

　　重量:23Kg

　　工作溫度:15℃-50℃

　　相對濕度:zui高80%,無凝露

　　試驗環境:無震動，無電磁干擾

　　工作電源:220V 50Hz

　　滿足GB/T6672（塑料薄膜與薄片厚度的測定機械測量法）、GB/T451.3(GB/T451.3紙張和紙板厚度測定方法)、GB/T6547（瓦楞紙板的厚度測量準則）、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、ISO4593、ISO534、ISO3034、DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4       817GB/T 6618-2009《硅片厚度和總厚度變化測試方法》 等各項國家標準要求。