高精度紙張厚度測(cè)試儀 符合GB/T 451.3標(biāo)準(zhǔn)的解決方案

技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)與適用范圍

三泉中石的高精度紙張厚度測(cè)試儀CHY-HS采用的是接觸式測(cè)試原理，通過(guò)截取規(guī)定尺寸的試樣，測(cè)量頭在固定壓力和接觸面積下自動(dòng)降落于試樣表面，從而精確測(cè)量出試樣的厚度值。這種測(cè)試方法不僅簡(jiǎn)單直接，而且能夠有效避免因紙張表面不平整或彈性造成的測(cè)量誤差。

1. 高精度測(cè)量：分辨率達(dá)0.1μm，確保測(cè)量結(jié)果的精準(zhǔn)性。
2. 自動(dòng)化操作：測(cè)量頭自動(dòng)降落與提升，減少人為操作誤差，提高工作效率。
3. 廣泛適用性：適用于各種單層或多層紙和紙板，滿足多樣化測(cè)試需求。

• 單層厚度的測(cè)定：將五張樣品對(duì)折形成10層，橫向切取兩疊1/100m2的試樣（共20片）。使用CHY-HS分別測(cè)定每片試樣的厚度值，并計(jì)算單層緊度（需額外稱取質(zhì)量）。
• 層積厚度的測(cè)定：從五張樣品上切取40片試樣，每10片一疊正面朝上層疊，形成四疊試樣。使用CHY-HS分別測(cè)定四疊試樣的厚度值（每疊三個(gè)點(diǎn)），并計(jì)算層積緊度（需額外稱取質(zhì)量）。
• 橫幅厚度差的測(cè)定：隨機(jī)抽取一整張紙頁(yè)，沿橫向均勻切取不少于六片試樣。使用CHY-HS分別測(cè)定每片試樣的厚度值（每片三個(gè)點(diǎn)），取其平均值作為測(cè)定結(jié)果。

三泉中石的高精度紙張厚度測(cè)試儀CHY-HS以其性能、高精度的測(cè)量能力和便捷的操作流程，符合GB/T 451.3標(biāo)準(zhǔn)的要求，為紙和紙板厚度的測(cè)定提供了可靠的技術(shù)支持。無(wú)論是單層厚度、層積厚度還是橫幅厚度差的測(cè)定，高精度紙張厚度測(cè)試儀都能確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和一致性，為紙制品的質(zhì)量控制提供有力保障。