真空壓力衰減法檢漏一機雙法是怎么實現(xiàn)的

文章由濟南三泉中石實驗儀器有限公司提供

Leak-DS微泄漏密封性測試儀采用真空衰減法/壓力衰減法測試原理，主要用于瓿瓶、西林瓶、玻璃輸液瓶、塑料輸液瓶/袋、卡式瓶、預(yù)充針、滴眼劑瓶等成品包裝密封完整性測試。真空壓力衰減法檢漏一體機設(shè)計，采用Sumspring三泉中石結(jié)構(gòu)，輕松完成不同內(nèi)容物藥品包裝容器的檢測測試。

其測試原理采用真空衰減和壓力衰減雙系統(tǒng)，具體測試過程：將微泄漏密封性測試儀主機連接到一個特別設(shè)計用來容納需要被測物的測試腔內(nèi)，包裝物內(nèi)外形成壓差，在壓力作用下，包裝物內(nèi)外氣體或者液體形成擴散。真空/壓力高精度傳感技術(shù)檢測時間和壓力的變化關(guān)系，從而判斷試樣是否泄漏。

真空衰減法測試原理圖       

     壓力衰減法測試原理圖

真空衰減法是目前應(yīng)用范圍較廣的確定性檢測方法，可用于各種液體、固體，剛性、半剛性、柔性產(chǎn)品的密封性檢漏。非破壞性無損檢測使其獲得制藥企業(yè)廣泛的認可。但真空衰減法檢漏儀并不能完成所有內(nèi)容物的測試，像混懸液、乳狀液（如蛋白質(zhì)）、粉末等容易堵塞泄漏通道的內(nèi)容物對真空衰減法檢漏構(gòu)成挑戰(zhàn)。而壓力衰減法能夠補充一部分真空衰減法的弊端。因此真空壓力衰減法檢漏一體機-Leak-DS微泄漏密封性測試儀對于用戶來說能夠測試的樣品更多，拓寬了儀器適用范圍。巧妙的設(shè)計使得儀器結(jié)構(gòu)更小，方法的切換更簡單。

 Sumspring三泉中石作為CCIT容器密封完整性測試技術(shù)，提供給用戶更多選擇，像高壓放電法、色水法、微生物挑戰(zhàn)法等多種儀器，并提供解決方案。

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